Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item:
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЦиркунова, Н. Г.-
dc.contributor.authorСоловьев, Я. А.-
dc.contributor.authorБорисенко, В. Е.-
dc.contributor.authorTsirkunova, N. G.-
dc.contributor.authorSoloviev, J. A.-
dc.contributor.authorBorisenko, V. E.-
dc.identifier.citationЦиркунова, Н. Г. Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов / Н. Г. Циркунова, Я. А. Соловьев, В. Е. Борисенко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 37 - 42.ru_RU
dc.description.abstractПоказана возможность использования различных методик атомно-силовой микроскопии для исследования p-n-переходов. Показано влияние амплитуды колебания зонда на разрешение метода фазового контраста при получении изображения, а также влияние обработки на структуру и свойства поверхности p-n-переходов.The possibility to use different methods for identification and analysis of p-n-junctions with atomic force microscopy is shown. Vibration amplitude of the probe and surface treatments has been observed to influence the resolution of the phase contrast method.ru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectатомно-силовая микроскопияru_RU
dc.subjectпараметры поверхностиru_RU
dc.titleИспользование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходовru_RU
dc.title.alternativeUse of atomic force microscope for research p-n-junctionru_RU
Appears in Collections:№4 (50)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tsirkunova_Use.PDF658,17 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.