| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Циркунова, Н. Г. | - |
| dc.contributor.author | Соловьев, Я. А. | - |
| dc.contributor.author | Борисенко, В. Е. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T09:13:46Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T09:13:46Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Циркунова, Н. Г. Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов / Н. Г. Циркунова, Я. А. Соловьев, В. Е. Борисенко // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 37 - 42. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/34999 | - |
| dc.description.abstract | Показана возможность использования различных методик атомно-силовой микроскопии
для исследования p-n-переходов. Показано влияние амплитуды колебания зонда на разрешение метода фазового контраста при получении изображения, а также влияние обработки
на структуру и свойства поверхности p-n-переходов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | атомно-силовая микроскопия | ru_RU |
| dc.subject | p-n-переход | ru_RU |
| dc.subject | параметры поверхности | ru_RU |
| dc.title | Использование атомного силового микроскопа для исследования p-n-переходов | ru_RU |
| dc.title.alternative | Use of atomic force microscope for research p-n-junction | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The possibility to use different methods for identification and analysis of p-n-junctions with
atomic force microscopy is shown. Vibration amplitude of the probe and surface treatments has been
observed to influence the resolution of the phase contrast method. | - |
| Appears in Collections: | №4 (50)
|
