| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, С. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-04-15T09:17:36Z | - |
| dc.date.available | 2019-04-15T09:17:36Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик, С. В. Анализ методов тестирования флэш-памяти / С. В. Ярмолик // Доклады БГУИР. - 2010. - № 4 (50). - С. 63 - 69. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35000 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются вопросы построения современной флэш-памяти и анализируются модели
неисправностей характерные для данного типа запоминающих устройств. Показывается
эффективность применения маршевых тестов запоминающих устройств для обнаружения
неисправностей флэш-памяти. Приводится оценка покрывающей способности маршевых
Тестов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | доклады БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | флэш-память | ru_RU |
| dc.subject | NOR- и NAND-архитектуры | ru_RU |
| dc.subject | неисправности памяти | ru_RU |
| dc.subject | тестирование памяти | ru_RU |
| dc.subject | маршевые тесты | ru_RU |
| dc.title | Анализ методов тестирования флэш-памяти | ru_RU |
| dc.title.alternative | Flash memory testing methods analysis | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The problems of design and reliability of modern flash-memory are discussed in this paper.
The architectures of two types of flash-memory namely the NOR- and NAND-architectures are de-
scribed and the specific flash-memory faults and tests for their detection are discussed. The march-like
tests, which provide the high cover possibility, are shown to be effective tests for detection specific
flash-memory faults. | - |
| Appears in Collections: | №4 (50)
|
