| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Боровиков, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Будник, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Казючиц, В. О. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-02T07:25:25Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-02T07:25:25Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Боровиков, С. М. Автоматизация процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборов / С. М. Боровиков, А. В. Будник, В. О. Казючиц // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVII Белорусско-российской научно – технической конференции, Минск, 11 июня 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники; редкол. : Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2019. – С. 17 – 18. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/35569 | - |
| dc.description.abstract | Для аппаратных частей технических систем, в том числе систем обеспечения
информационной безопасности, во многих случаях предъявляются повышенные требования
к надежности. Для обеспечения требуемого уровня надежности необходимо при изготовлении
аппаратных частей использовать комплектующие элементы повышенного уровня качества.
Полупроводниковые приборы (ППП) составляют заметную часть в составе устройств,
используемых в электронных системах безопасности. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.subject | индивидуальное прогнозирование | ru_RU |
| dc.title | Автоматизация процедуры индивидуального прогнозирования надежности полупроводниковых приборов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2019
|
