Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3636
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШепелевич, Марина Александровна-
dc.date.accessioned2015-03-12T07:42:00Z
dc.date.accessioned2017-07-20T12:06:20Z-
dc.date.available2015-03-12T07:42:00Z
dc.date.available2017-07-20T12:06:20Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationШепелевич, М. А. Нейросетевая идентификация дефектов полупроводниковых пластин : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-40-80-03 / М. А. Шепелевич ; науч. рук. А. А. Дудкин. - Минск : БГУИР, 2015.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/3636-
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectавторефератыru_RU
dc.subjectнейросетевая идентификацияru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.subjectдефектыru_RU
dc.titleНейросетевая идентификация дефектов полупроводниковых пластинru_RU
dc.typeAbstract of the thesisru_RU
Appears in Collections:1-40 80 03 Вычислительные машины и системы

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Aвтореферат.pdf374.31 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.