| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Бондарев, А. А. | - |
| dc.contributor.author | Загорский, А. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-02T13:29:04Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-02T13:29:04Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Бондарев, А. А. Оценка метода тока затвора и анализ закономерностей процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов / Бондарев А. А., Загорский А. В. // Электронные системы и технологии: 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г.: сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2019. – С. 59. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36594 | - |
| dc.description.abstract | Ухудшение параметров р-МОП-транзисторов, вызванное «горячими» носителями, является важной проблемой надежности
в современных схемах. Для определения изменения рабочих характеристик обычно контролируются такие параметры как
пороговое напряжение, крутизна передаточной характеристики и рабочие токи. В этой статье рассмотрен метод тока затвора
проведения ускоренных испытаний на деградацию параметров и проанализированы закономерности процессов деградации
параметров р-МОП-транзисторов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | р-МОП-транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | МОП-транзисторы | ru_RU |
| dc.title | Оценка метода тока затвора и анализ закономерностей процессов деградации параметров р-МОП-транзисторов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
