| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Золоторевич, Л. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-10T13:02:43Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-10T13:02:43Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Золоторевич, Л. А. Алгоритмический подход к построению тестов контроля СБИС / Л. А. Золоторевич // Материалы Международного конгресса по интеллектуальным системам и информационным технологиям (IS&IT’15), Таганрог, 3-9 сентября 2015 г. – Таганрог, 2015. – С. 57 – 64. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36735 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются особенности развития современной микроэлектроники. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Южный федеральный университет | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | СБИС | ru_RU |
| dc.subject | тесты контроля | ru_RU |
| dc.subject | цифровые системы | ru_RU |
| dc.title | Алгоритмический подход к построению тестов контроля СБИС | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
