| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Коротыш, И. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-25T08:45:41Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-25T08:45:41Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Коротыш, И. Г. Методы исследования интегральных микросхем / Коротыш И. Г. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 157 – 158 | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36873 | - |
| dc.description.abstract | Современный мир трудно представить без электронных устройств, в основе которых
находятся интегральные микросхемы, от качества и работы которых зависит работоспособность,
надёжность, энергопотребление, тепловыделение и другие характеристики устройств. Для того
чтобы обеспечить высокую степень безотказности ИМС необходимо проводить соответствующий
контроль качества, а также проводить анализ и поиски причин отказа микросхем для
посредствующих улучшений и исправлений технологического процесса их изготовления. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | компьютерная микротомография | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.title | Методы исследования интегральных микросхем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
