Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36873
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКоротыш, И. Г.-
dc.date.accessioned2019-10-25T08:45:41Z-
dc.date.available2019-10-25T08:45:41Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationКоротыш, И. Г. Методы исследования интегральных микросхем / Коротыш И. Г. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 157 – 158ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36873-
dc.description.abstractСовременный мир трудно представить без электронных устройств, в основе которых находятся интегральные микросхемы, от качества и работы которых зависит работоспособность, надёжность, энергопотребление, тепловыделение и другие характеристики устройств. Для того чтобы обеспечить высокую степень безотказности ИМС необходимо проводить соответствующий контроль качества, а также проводить анализ и поиски причин отказа микросхем для посредствующих улучшений и исправлений технологического процесса их изготовления.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectкомпьютерная микротомографияru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.titleМетоды исследования интегральных микросхемru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Korotysh_Metody.pdf835.52 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.