| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Кукшинский, Н. И. | - |
| dc.contributor.author | Бируков, Е. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-28T06:58:46Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-28T06:58:46Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Кукшинский, Н. И. Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур / Кукшинский Н. И., Бируков Е. А. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 163. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36894 | - |
| dc.description.abstract | В статье рассматривается оборудование для тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в
диапазоне температур, приводятся их основные технические характеристики. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | тестирование интегральных микросхем | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковые приборы | ru_RU |
| dc.title | Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
