Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36894
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКукшинский, Н. И.-
dc.contributor.authorБируков, Е. А.-
dc.date.accessioned2019-10-28T06:58:46Z-
dc.date.available2019-10-28T06:58:46Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationКукшинский, Н. И. Оборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур / Кукшинский Н. И., Бируков Е. А. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 163.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36894-
dc.description.abstractВ статье рассматривается оборудование для тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур, приводятся их основные технические характеристики.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectтестирование интегральных микросхемru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.titleОборудование для проведения тестирования интегральных микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температурru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kukshinskiy_Oborudovaniye.pdf485.91 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.