| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Майоров, Л. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-10-28T08:09:29Z | - |
| dc.date.available | 2019-10-28T08:09:29Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Майоров, Л. В. Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств / Майоров Л. В. // Электронные системы и технологии : 55-я юбилейная конференция аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22-26 апреля 2019 г. : сборник тезисов докладов / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск : БГУИР, 2019. – С. 169. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/36912 | - |
| dc.description.abstract | Основными физическими причинами, обуславливающими появление временных отказов микропроцессорных
устройств, являются электромагнитные помехи и воздействие ионизирующего излучения на полупроводниковые структуры.
Анализ среды, в которой функционирует микропроцессорное устройство, и влияния её факторов позволят оценить вероятность
возникновения временного отказа. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | микропроцессорные устройства | ru_RU |
| dc.subject | ионизирующее излучение | ru_RU |
| dc.title | Физические причины временных отказов микропроцессорных устройств | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 55-й юбилейной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
