Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКолосницын, Б. С.-
dc.contributor.authorКороткевич, А. В.-
dc.date.accessioned2014-07-10T13:17:09Z-
dc.date.accessioned2017-07-17T07:47:51Z-
dc.date.available2014-07-10T13:17:09Z-
dc.date.available2017-07-17T07:47:51Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationКолосницын, Б. С. Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обучения / Б. С. Колосницын, А. В. Короткевич. – Минск : БГУИР, 2005. – 20 с.ru_RU
dc.identifier.isbn985-444-773-1.-
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/370-
dc.description.abstractКурс «Испытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем» включает десять тем. К каждой теме прилагаются основная и дополнительная литература, подробные методические указания и вопросы для самопроверки. Приведены задачи и вопросы, входящие в индивидуальное контрольное задание.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectучебно-методические пособияru_RU
dc.subjectинтегральные микросхемыru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.titleИспытание и исследование полупроводниковых приборов и интегральных микросхем: метод. указания и контрольные задания для студентов специальности 41 01 02 «Микро- и наноэлектр. технологии и системы» заоч. и дистанц. форм обученияru_RU
dc.typeBookru_RU
Appears in Collections:Кафедра микро- и наноэлектроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kolosnicin_ispit.pdf589.36 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.