Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37462
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И. И.-
dc.contributor.authorЯковенко, Ю. С.-
dc.contributor.authorМойсейчик, Е. С.-
dc.contributor.authorБейда, А. И.-
dc.date.accessioned2019-11-22T09:02:56Z-
dc.date.available2019-11-22T09:02:56Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationЭволюция микроструктуры тонких пленок сплава Al-1.0 ат. % Cr при ионно-ассистированном осаждении на стекло / И. И. Ташлыкова-Бушкевич, Ю. С. Яковенко, Е. С. Мойсейчик, А. И. Бейда // Актуальные проблемы физики твердого тела : сб. докл. VIII Междунар. науч. конф., Минск, 24-28 сент. 2018 г. : в 3 т. Т. 3 / ред. колл.: Н. М. Олехнович [и др.]. – Минск : Ковчег, 2018. – C. 170-172.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37462-
dc.description.abstractДля управления свойствами тонкопленочных металлических покрытий при их осаждении на подложку необходима диагностика микроструктуры поверхности системы покрытие/подложка. В данной работе на примере тонких пленок сплава Al-1.0 ат. % Cr, характеризующегося высокой термической стабильностью, обсуждаются экспериментальные результаты исследования изменения микроструктуры тонких металлических пленок, полученных методом ионно-ассистированного осаждения (ОПАСИ), в зависимости от условий формирования покрытий.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherООО "Ковчег"ru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectмикроструктураru_RU
dc.subjectтонкие пленки алюминияru_RU
dc.subjectхромru_RU
dc.subjectионно-ассистированное осаждениеru_RU
dc.titleЭволюция микроструктуры тонких пленок сплава Al-1.0 ат. % Cr при ионно-ассистированном осаждении на стеклоru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tashlykova_Bushkevich_Evolyutsiya.pdf642.12 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.