Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37469
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И. И.-
dc.contributor.authorЯковенко, Ю. С.-
dc.contributor.authorСуходольский, Д. В.-
dc.contributor.authorГагуа, Д. Р.-
dc.date.accessioned2019-11-22T09:32:47Z-
dc.date.available2019-11-22T09:32:47Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationВлияние структуры подложки на микротопографию тонких пленок сплавов Al-Me (Me=Mn; Ni) / Ташлыкова-Бушкевич И. И., Яковенко Ю. С., Суходольский Д. В., Гагуа Д. Р. // XLIX междун. Тулиновская конф. по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами, Москва, 28 мая – 30 мая 2019 г. : тезисы докладов / МГУ ; под ред. М. И. Панасюка. – Москва, 2019. – С. 183.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37469-
dc.description.abstractВ настоящей работе изучено влияние структуры стеклянной подложки на микротопографию поверхности металлических пленоксплавов Al-2.1 ат.% Mn иAl-1.4 ат.% Ni, полученных осаждением при ассистировании собственными ионами. .Построение гистограмм распределения средних измеренных высот и впадин микрорельефа поверхности позволило провести количественный анализ морфологии поверхности покрытий в сравнении с исходной стеклянной подложкой.Полученные результаты обсуждаются с учетом ранее обнаруженных закономерностей формирования микростуктуры тонких пленок сплавов Al-Cr и Al-Fe[1].ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherМГУ имени М. В. Ломоносоваru_RU
dc.subjectпубликации ученыхru_RU
dc.subjectсплав Al-Cr и Al-Feru_RU
dc.subjectпленкаru_RU
dc.subjectсмачиваемостьru_RU
dc.titleВлияние структуры подложки на микротопографию тонких пленок сплавов Al-Me (Me=Mn; Ni)ru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tashlykova_Bushkevich_Vliyaniye.pdf175.17 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.