| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Линевич, Д. О. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-12-26T05:16:27Z | - |
| dc.date.available | 2019-12-26T05:16:27Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Линевич, Д. О. Контрольно-измерительное оборудование изделий микроэлектроники / Линевич Д. О. // Информационные системы и технологии: материалы 55-й юбилейной научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, 22 – 26 апреля 2019 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск: БГУИР, 2019. – С. 89 – 90. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/37934 | - |
| dc.description.abstract | Рассматриваются возможности и технические характеристики контрольно-измерительного оборудования изделий
микроэлектроники. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | контрольно-измерительное оборудование | ru_RU |
| dc.subject | интегральные схемы | ru_RU |
| dc.title | Контрольно-измерительное оборудование изделий микроэлектроники | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Информационные системы и технологии : 55-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов (2019)
|
