| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Майоров, Л. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-02-07T08:53:13Z | - |
| dc.date.available | 2020-02-07T08:53:13Z | - |
| dc.date.issued | 2019 | - |
| dc.identifier.citation | Майоров, Л. В. Оценка эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учётом их временных отказов / Л. В. Майоров // Новые информационные технологии в научных исследованиях (НИТ-2019): материалы XХIV Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 13 - 15 ноября 2019 г: в 2 т. / Министерство образования и науки РФ; Рязанский государственный радиотехнический университет имени В.Ф. Уткина. – Рязань, 2019. – Т. 2. – С. 15 – 16. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/38507 | - |
| dc.description.abstract | Временный отказ (сбой) – это самоустраняющийся отказ или однократный отказ, устраняемый незначительным вмешательством оператора. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | РГРТУ имени В.Ф. Уткина | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | временный отказ | ru_RU |
| dc.subject | микропроцессорное устройство | ru_RU |
| dc.title | Оценка эффективности функционирования микропроцессорных устройств с учётом их временных отказов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
