Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39822
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКисель, Д. С.-
dc.date.accessioned2020-09-09T07:06:21Z-
dc.date.available2020-09-09T07:06:21Z-
dc.date.issued2020-
dc.identifier.citationКисель, Д. С. Особенности проведения измерений оптических покрытий методом абсорбционной спектроскопии / Кисель Д. С. // Радиотехника и электроника : сборник тезисов докладов 56-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов, Минск, апрель-май 2020 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. - Минск : БГУИР, 2020. - С. 17-18ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/39822-
dc.description.abstractПроведены измерения оптических покрытий на примере просветляющего покрытия и многослойного диэлектрического зеркала на спектрофотометре МС 122. Описана оптическая система спектрофотометра МС 122. Представлены спектральные характеристики оптических покрытий.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectоптические покрытияru_RU
dc.subjectспектрофотометрыru_RU
dc.subjectспектрофотометрияru_RU
dc.subjectспектроскопияru_RU
dc.subjectабсорбционная спектроскопияru_RU
dc.titleОсобенности проведения измерений оптических покрытий методом абсорбционной спектроскопииru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Радиотехника и электроника : материалы 56-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kisel_Osobennosti.pdf503.3 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.