| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Терешкова, А. С. | - |
| dc.contributor.author | Горбач, В. Р. | - |
| dc.contributor.author | Жданович, В. П. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-11-23T12:23:13Z | - |
| dc.date.available | 2020-11-23T12:23:13Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Терешкова, А. С. Программное средство для прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по модели деградации электрического параметра / А. С. Терешкова, В. Р. Горбач, В. П. Жданович // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 512–513. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41209 | - |
| dc.description.abstract | Авторы предлагают программное средство, позволяющее в интерактивном режиме взаимодействовать с пользователем, получать оптимальную модель деградации электрического параметра выборки полупроводниковых приборов. Модель представляет собой математическое выражение условного (для заданной наработки) закона распределения электрического параметра. В качестве критерия оптимальности используется минимальное значение средней ошибки прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | прогнозирование надёжности | ru_RU |
| dc.subject | полупроводниковый прибор | ru_RU |
| dc.title | Программное средство для прогнозирования надёжности полупроводниковых приборов по модели деградации электрического параметра | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)
|
