| Поле DC | Значение | Язык |
|---|
| dc.contributor.author | Жданович, В. П. | - |
| dc.contributor.author | Терешкова, А. С. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-11-23T13:04:29Z | - |
| dc.date.available | 2020-11-23T13:04:29Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Жданович, В. П. Использование модели Вейбулла-Гнеденко для оценки деградации электрических параметров фотоэлементов / В. П. Жданович, А. С. Терешкова // Электронные системы и технологии : сборник тезисов докладов 56-ой научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 18–20 мая 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники. – Минск, 2020. – С. 610. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41217 | - |
| dc.description.abstract | В данной статье рассмотрено применение модели, в основе которой лежит распределение Вейбулла-Гнеденко, в прикладной задаче оценки деградации электрических параметров фотоэлементов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | модель Вейбулла-Гнеденко | ru_RU |
| dc.subject | электрические параметры фотоэлементов | ru_RU |
| dc.title | Использование модели Вейбулла-Гнеденко для оценки деградации электрических параметров фотоэлементов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Располагается в коллекциях: | Электронные системы и технологии : материалы 56-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2020)
|
