| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Бересневич, А. И. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-12-16T05:56:19Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-16T05:56:19Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Бересневич, А. И. Прогнозирование надежности изделий электронной техники с использованием деградационных моделей функциональных параметров / Бересневич А. И. // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 70. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41753 | - |
| dc.description.abstract | Причины возникновения внезапных отказов изделий электронной техники (ИЭТ) могут быть в значительной мере устранены. Постепенные (деградационные) отказы исключить невозможно. В современных электронных устройствах общее количество ИЭТ велико и аддитивное влияние изменений функциональных параметров элементов вследствие медленной деградации может наложить заметный отпечаток на поведение выходного параметра электронного устройства в целом. При повышенных электрических, температурных, климатических и прочих нагрузках физико-химические процессы деградации ускоряются, и при этом возрастает количество постепенных отказов. Для получения достоверного прогноза об отказе надо располагать количественной моделью надёжности в виде зависимости деградации функционального параметра ИЭТ от времени, температуры и других эксплуатационных факторов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | деградационные модели | ru_RU |
| dc.subject | надежность | ru_RU |
| dc.subject | изделия электронной техники | ru_RU |
| dc.title | Прогнозирование надежности изделий электронной техники с использованием деградационных моделей функциональных параметров | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010
|
