| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Казючиц, В. О. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-12-22T11:14:30Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-22T11:14:30Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Казючиц, В. О. Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляров / Казючиц В. О. // Информационные радиосистемы и радиотехнологии 2020 : материалы Республиканской научно-практической конференции, Минск, 28-29 октября 2020 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. А. Богуш [и др.]. – Минск : БГУИР, 2020. – С. 320-322. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/41987 | - |
| dc.description.abstract | Описывается применение метода индивидуального прогнозирования надёжности радиоэлектронных изделий по информативным параметрам, а также приводятся основные этапы ускоренных испытаний полупроводниковых приборов на надёжность. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | индивидуальное прогнозирование | ru_RU |
| dc.subject | надёжность радиоэлектронных изделий | ru_RU |
| dc.title | Поиск информативных параметров для прогнозирования индивидуальной надёжности транзисторов большой мощности и отбора высоконадёжных экземпляров | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | A method of individual forecasting of the reliability of radio-electronic products by informative parameters is described, and the main stages of accelerated testing of semiconductor devices for reliability are given. | - |
| Appears in Collections: | Информационные радиосистемы и радиотехнологии 2020 : Республиканская научно-практическая конференция
|
