| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Лапшин, С. М. | - |
| dc.contributor.author | Пылик, Е. И. | - |
| dc.contributor.author | Середенко, Р. С. | - |
| dc.contributor.author | Таболич, Т. Г. | - |
| dc.date.accessioned | 2020-12-23T11:16:50Z | - |
| dc.date.available | 2020-12-23T11:16:50Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.citation | Сравнение влияния температуры на безотказность конденсаторов и кремниевых транзисторов / Лапшин С. М. [и др.] // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХVIII Белорусско-российской научно-технической конференции, Браслав, 24–28 мая 2010 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2010. – С. 97. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42072 | - |
| dc.description.abstract | Исследование влияния температуры на надёжность электрорадиоэлементов с помощью построения линий Аррениуса, начатое для кремниевых транзисторов, было продолжено для конденсаторов. В среде MathCAD были построены линии Аррениуса для деградационных процессов, вызывающих отказы электролитических, бумажных, керамических, слюдяных, плёночных и других конденсаторов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | кремниевые транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | конденсаторы | ru_RU |
| dc.title | Сравнение влияния температуры на безотказность конденсаторов и кремниевых транзисторов | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2010
|
