| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Титович, Н. А. | - |
| dc.contributor.author | Ледник, А. М. | - |
| dc.contributor.author | Мурашкина, З. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-01-14T08:48:59Z | - |
| dc.date.available | 2021-01-14T08:48:59Z | - |
| dc.date.issued | 2011 | - |
| dc.identifier.citation | Титович, Н. А. Методы исследования влияния ВЧ и СВЧ помех на работу микросхем / Н. А. Титович, А. М. Ледник, З. Н. Мурашкина // Технические средства защиты информации : тезисы докладов IХ Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск, 28–29 июня 2011 г. / редкол.: Л. М. Лыньков [и др.]. – Минск : БГУИР, 2011. – С. 83. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42455 | - |
| dc.description.abstract | Уровни наводимых на сигнальных проводах, шинах питания и заземления радиоэлектронных устройств ВЧ и СВЧ помех даже в случае ослабления их на 80–100 дБ могут вызвать не только обратимые сбои в работе интегральных микросхем (ИМС), но и привести к деградационным изменениям в их структуре. При оценке влияния электромагнитных помех (ЭМП) для имитации воздействия часто используется метод излучения, в котором помеховый сигнал поступает к антенне, излучающей его в направлении исследуемого объекта, расположенного перед облучателем. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | интегральные микросхемы | ru_RU |
| dc.subject | высокочастотные помехи | ru_RU |
| dc.subject | сверхвысокочастотные помехи | ru_RU |
| dc.subject | электромагнитные помехи | ru_RU |
| dc.title | Методы исследования влияния ВЧ и СВЧ помех на работу микросхем | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2011
|
