DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Хомец, А. Л. | - |
dc.date.accessioned | 2021-01-18T11:12:08Z | - |
dc.date.available | 2021-01-18T11:12:08Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.citation | Хомец, А. Л. Влияние морфологии на теплопроводность тонких пленок SiGe : автореф. дисс. ... магистра технических наук : 1-41 80 03 / А. Л. Хомец ; науч. рук. Д. Б. Мигас. – Минск : БГУИР, 2020. – 8 с. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42577 | - |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | авторефераты диссертаций | ru_RU |
dc.subject | термоэлектрические материалы | ru_RU |
dc.subject | теплопроводность | ru_RU |
dc.subject | тонкопленочные структуры | ru_RU |
dc.title | Влияние морфологии на теплопроводность тонких пленок SiGe | ru_RU |
dc.type | Автореферат | ru_RU |
Appears in Collections: | 1-41 80 03 Нанотехнологии и наноматериалы (в электронике)
|