| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Хорошко, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Гременок, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Цырельчук, И. Н. | - |
| dc.contributor.author | Аксенов, О. Д. | - |
| dc.contributor.author | Ли, В. К. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-02-03T08:16:42Z | - |
| dc.date.available | 2021-02-03T08:16:42Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | - |
| dc.identifier.citation | Структурные, морфологические и оптические свойства тонких пленок CdS = Structure, morphology and optical characteristics of CdS thin films / В. В. Хорошко [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. – 2020. – № 2. – С. 43–46. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/42822 | - |
| dc.description.abstract | Представлены результаты формирования тонких пленок CdS методом химического осаждения с использованием различных методов размешивания водного раствора и положения подложки. Проведены исследования структурных, морфологических и оптических свойств тонких пленок CdS. Рентгенограммы показали характерные для CdS пики (111), (220) и (311). Значения ширины запрещенной зоны находились в пределах 2,39–2,48 эВ, что соответствует литературным данным. Использование методов позволяет формировать тонкие пленки высокого качества со стабильными характеристиками и управляемой толщиной. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины | ru_RU |
| dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
| dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
| dc.subject | CdS | ru_RU |
| dc.subject | thin films | ru_RU |
| dc.subject | physical properties | ru_RU |
| dc.title | Структурные, морфологические и оптические свойства тонких пленок CdS | ru_RU |
| dc.title.alternative | Structure, morphology and optical characteristics of CdS thin films | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The results of the formation CdS thin films by chemical deposition using various thechnics of stirring an aqueous solution and the position of the substrate are presented. The structural, morphological, and optical properties CdS thin films were studied. X-ray diffraction patterns showed the peaks (111), (220), and (311) of CdS. The values of the band gap are in the range 2,39– 2,48 eV, which corresponds to the published data. The use of methods allows the formation of thin films. | - |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
