Широкодиапазонные панорамные средства измерений диэлектрической проницаемости материалов в микроволновом диапазоне на основе анализаторов цепей

Abstract

В настоящее время точные и надежные бесконтактные методы измерения диэлектрической проницаемости материалов в широком интервале частот СВЧ и КВЧ диапазона разработаны в недостаточной степени. Существующие методы измерения диэлектрической проницаемости материалов с использованием измерительных линий не позволяют в полной мере обеспечить автоматизацию измерений. В свою очередь, в области измерения параметров СВЧ двух- и четырехполюсников достигнуты в последнее десятилетие значительные успехи, обусловленные созданием автоматизированной измерительной аппаратуры с использованием микропроцессоров для контроля, управления и обработки информации; разработками специализированного программного обеспечения. В процессе проектирования и эксплуатации систем, служащих для скоростной передачи информации, систем радиолокации, систем телекоммуникаций, систем для измерения параметров перемещения, скорости, вибрации и т.п., возникает необходимость в измерении частотных характеристик различных устройств, обычно выражаемых через значения S-параметров этих устройств. Данная работа посвящена решению задачи создания усовершенствованных средств измерений и применения модифицированных методов измерений диэлектрической проницаемости материалов в СВЧ и КВЧ диапазонах, позволяющих восполнить этот пробел и создать предпосылки для повышения качества продукции за счет проведения мониторинга, контроля, диагностики и отбраковки материалов и изделий, диэлектрическая проницаемость которых, либо другие связанные с ней параметры, не удовлетворяет заданным значениям.