Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43436
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorФам, В. Т.-
dc.date.accessioned2021-05-05T08:47:03Z-
dc.date.available2021-05-05T08:47:03Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationФам, В. Т. Сборка 3D электронных модулей с использованием шариковых выводов припоя и лазерного излучения = Assembly 3D electronic modules using solder balls and laser radiation / В. Т. Фам // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 266–270.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43436-
dc.description.abstractТехнология Flip Chip позволяют соединять контактные площадки кристаллов и подложек с помощью шариков припоя. Формирование выводов для Flip Chip технологии включает в себе сложный и многоэтапный технологический процесс. Применение лазерного излучения позволяет локальный нагрев на шарике припоя, обеспечивает высокая стабильность температурно-временных режимов и отсутствие контакта с шариком припоя. Измерение высоты микровыводов, сформированных из шариков припоя размером от 80 до 1100 мкм показывают, что их высота совпадает с ожидаемой величиной, доверительный интервал которого составляет ±8-15% средней величины. Усилия сдвига полученных бампов из шариков припоя диаметром 80 мкм равно 0,15 гс и не сильно зависит от положения бампов на поверхности пластины. Flip Chip technology allows to connect the contact pads of crystals and substrates using solder balls. Formation of conclusions for Flip Chip technology includes a complex and multi-stage technological process. The use of laser radiation allows local heating on solder ball, ensures high stability of temperature and time modes and the absence of contact with the solder ball. Measurement of the height of micro bumps formed from solder balls ranging in size from 80 to 1100 microns shows that their height coincides with the expected value, the confidence interval of which is ± 8-15% of the average value. The shear test of the obtained bumps from solder balls with a diameter of 80 μm is 0.15 gf and does not strongly depend on the position of the bumps on the plate surface.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectFlip Chip технологияru_RU
dc.subjectлазерное излучениеru_RU
dc.subjectlaser irradiationru_RU
dc.titleСборка 3D электронных модулей с использованием шариковых выводов припоя и лазерного излученияru_RU
dc.title.alternativeAssembly 3D electronic modules using solder balls and laser radiationru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Fam_Sborka.pdf444.75 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.