Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43456
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКлакевич, М. С.-
dc.date.accessioned2021-05-05T12:18:56Z-
dc.date.available2021-05-05T12:18:56Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationКлакевич, М. С. Методы контроля процессов плазменного травления материалов = Methods for control of processes of plasma etching of materials / М. С. Клакевич // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 190–193.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43456-
dc.description.abstractПроанализированы методы контроля процессов плазменного травления материалов, рассмотрены их достоинства и недостатки. Methods for controlling the processes of plasma etching of materials has been reviewed, their advantages and disadvantages has been reviewed.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectспектроскопияru_RU
dc.subjectконтроль плазменного травленияru_RU
dc.subjectspectroscopyru_RU
dc.subjectplasma etching controlru_RU
dc.titleМетоды контроля процессов плазменного травления материаловru_RU
dc.title.alternativeMethods for control of processes of plasma etching of materialsru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Klakevich_Metody.pdf345.89 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.