DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | То, К. Т. | - |
dc.date.accessioned | 2021-05-06T11:19:26Z | - |
dc.date.available | 2021-05-06T11:19:26Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | То, К. Т. Влияние легирования вольфрамом на электрофизические характеристики пленок оксида ванадия = Effect of doping with tungsten on the electrophysical characteristics of vanadium oxide films / К. Т. То // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 262–265. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43508 | - |
dc.description.abstract | Исследованы электрофизические характеристики тонких пленок легированного вольфрамом оксида ванадия. Установлено, что пленки легируемого вольфрамом оксида ванадия имеют более низкое значение удельного сопротивления и широкий диапазон изменения ТКС, чем пленки не легируемого оксида ванадия. In this article, electrophysical characteristics thin films of tungsten-doped vanadium oxide have been investigated. It was found that thin films of tungsten-doped vanadium oxide have lower resistivity value and wider range of TCR variation than thin films of non-doped vanadium oxide. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
dc.subject | тонкие пленки | ru_RU |
dc.subject | оксид ванадия | ru_RU |
dc.subject | вольфрам | ru_RU |
dc.subject | thin films | ru_RU |
dc.subject | vanadium oxide | ru_RU |
dc.subject | tungsten | ru_RU |
dc.title | Влияние легирования вольфрамом на электрофизические характеристики пленок оксида ванадия | ru_RU |
dc.title.alternative | Effect of doping with tungsten on the electrophysical characteristics of vanadium oxide films | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)
|