DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
dc.contributor.author | Пискун, Г. А. | - |
dc.contributor.author | Панасюк, Н. А. | - |
dc.date.accessioned | 2021-05-12T08:35:39Z | - |
dc.date.available | 2021-05-12T08:35:39Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Испытание электронных средств по моделям воздействия электростатического разряда / В. Ф. Алексеев, Г. А. Пискун, Н. А. Панасюк // Сучасні виклики і актуальні проблеми науки, освіти та виробництва: міжгалузеві диспути : матеріали XV міжнародної науково-практичної інтернет-конференції, Київ, 29 квітня 2021 р. / Наукова платформа Open Science Laboratory. – Київ, 2021. ‒ С.284‒293. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43560 | - |
dc.description.abstract | Показаны различные подходы к проведению испытаний устройств и компонентов на устойчивость к воздействию электростатических разрядов. Рассмотрены различные модели, имитирующие разряд на электронные устройства. Описаны основные механизмы отказов полупроводниковых структур при импульсном воздействии ЭСР. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | Наукова платформа Open Science Laboratory | ru_RU |
dc.subject | публикации ученых | ru_RU |
dc.subject | электростатический разряд | ru_RU |
dc.subject | machine model | ru_RU |
dc.subject | charged device model | ru_RU |
dc.subject | socketed device model | ru_RU |
dc.title | Испытание электронных средств по моделям воздействия электростатического разряда | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|