DC Field | Value | Language |
dc.contributor.author | Жданович, В. П. | - |
dc.contributor.author | Голубева, И. А. | - |
dc.contributor.author | Бруй, Н. М. | - |
dc.date.accessioned | 2021-05-31T07:48:17Z | - |
dc.date.available | 2021-05-31T07:48:17Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | Жданович, В. П. Обработка результатов испытаний на надежность полупроводниковых приборов с помощью библиотек Python = The results of reliability tests of semiconductor devices analysis using Python libraries / В. П. Жданович, И. А. Голубева, Н. М. Бруй // Электронные системы и технологии : сборник материалов 57-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 19-23 апреля 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2021. – С. 646–648. | ru_RU |
dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/43792 | - |
dc.description.abstract | При сборе большого количества данных об электрических параметрах приборов важно рационально осуществлять анализ получаемых значений. Выводы удобно делать при оценке графических представлений результатов, однако вручную строить графики для каждого параметра является нецелесообразным, в этом могут помочь библиотеки языка программирования Python. Collecting a large amount of data on the electrical parameters of devices, it is important to analyze the obtained values rationally Conclusions can be done easily by a graphical presentation of the results; however, it is impractical to manually build graphs for each parameter. Python programming language libraries can help in this. | ru_RU |
dc.language.iso | ru | ru_RU |
dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
dc.subject | обработка данных | ru_RU |
dc.subject | анализ данных | ru_RU |
dc.subject | Python | ru_RU |
dc.subject | data processing | ru_RU |
dc.subject | data analysis | ru_RU |
dc.title | Обработка результатов испытаний на надежность полупроводниковых приборов с помощью библиотек Python | ru_RU |
dc.title.alternative | The results of reliability tests of semiconductor devices analysis using Python libraries | ru_RU |
dc.type | Статья | ru_RU |
Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 57-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2021)
|