Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45273
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБересневич, А. И.-
dc.contributor.authorБоровиков, С. М.-
dc.date.accessioned2021-09-14T08:13:54Z-
dc.date.available2021-09-14T08:13:54Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.citationБересневич, А. И. Использование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторов / Бересневич А. И., Боровиков С. М. // Доклады БГУИР. – 2005. – № 5. – С. 83–84.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45273-
dc.description.abstractМетодом имитационных воздействий можно решать задачи индивидуального прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов. В качестве имитационного фактора обычно используют температуру.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectдоклады БГУИРru_RU
dc.subjectбиполярные транзисторыru_RU
dc.subjectимитационные факторыru_RU
dc.titleИспользование параметров электрического режима биполярных транзисторов в качестве имитационных факторовru_RU
dc.typeСтатьяru_RU
Appears in Collections:№5

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Beresnevish_Ispolzovaniye.pdf186.81 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.