| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Ярмолик, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Леванцевич, В. А. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-11-18T11:40:54Z | - |
| dc.date.available | 2021-11-18T11:40:54Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Ярмолик, В. Н. Анализ и синтез маршевых тестов запоминающих устройств=Analysis and Synthesis March Memory Tests / В. Н. Ярмолик, В. А. Леванцевич, Д. В. Деменковец // Цифровая трансформация. – 2021. – № 2(15). – С. 45 – 55. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/45949 | - |
| dc.description.abstract | В статье показывается актуальность тестирования запоминающих устройств современных вычислительных систем. Представляются математические модели неисправностей запоминающих устройств и эффективность их обнаружения, в частности, сложных кодочувствительных неисправностей типа PNPSFk, на базе классических маршевых тестов. Приводятся предельные оценки полноты покрытия подобных неисправностей в зависимости от количества запоминающих ячеек, участвующих в неисправности. Обосновывается необходимость синтеза маршевых тестов, характеризующихся высокой эффективностью обнаружения PNPSFk неисправностей. Определяется понятие примитива, обеспечивающего условия активизации и обнаружения различных видов PNPSFk. Приводятся примеры анализа и синтеза маршевых тестов, имеющих различную полноту покрытия PNPSFk неисправностей. Синтезируется маршевый тест March OP, характеризующийся максимальной полнотой покрытия. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | ГИАЦ | ru_RU |
| dc.subject | цифровая трансформация | ru_RU |
| dc.subject | тестирование вычислительных систем | ru_RU |
| dc.subject | кодочувствительные неисправности | ru_RU |
| dc.subject | маршевые тесты | ru_RU |
| dc.title | Анализ и синтез маршевых тестов запоминающих устройств | ru_RU |
| dc.title.alternative | Analysis and Synthesis March Memory Tests | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| local.description.annotation | The paper shows the relevance of testing storage devices in modern computing systems. Mathematical models
of memory device faults and the efficiency of their detection, in particular, complex pattern sensitive faults of the PNPSFk
type, based on classical march memory tests are presented. Limit estimates are given for the completeness of coverage of
such faults depending on the number of memory cells involved in the fault. The necessity of synthesis of memory march
tests characterized by high efficiency of PNPSFk failure detection is substantiated. The concept of a primitive providing
conditions for activation and detection of various types of PNPSFk is defined. Examples of analysis and synthesis of
memory march tests with different coverage of PNPSFk faults are given. The March OP memory test is synthesized, which
is characterized by the maximum completeness of PNPSFk fault coverage and has the lowest time complexity compared
to the known memory march tests, which provide the same comprehensiveness of coverage of complex memory device
faults. | - |
| Appears in Collections: | № 2(15)
|
