| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Петровская, В. В. | - |
| dc.contributor.author | Деменковец, Д. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2021-11-30T09:20:39Z | - |
| dc.date.available | 2021-11-30T09:20:39Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | - |
| dc.identifier.citation | Петровская, В. В. Анализ тестов запоминающих устройств для обнаружения пассивных кодочувствительных неисправностей / В. В. Петровская, Д. В. Деменковец // Информационные технологии и системы 2021 (ИТС 2021) = Information Teсhnologies and Systems 2021 (ITS 2021) : материалы международной научной конференции, Минск, 24 ноября 2021 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск, 2021. – С. 128– 129. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/46064 | - |
| dc.description.abstract | Тезис посвящен методам обнаружения неисправностей запоминающих элементов. Рассматриваются модели неисправностей, структура и алгоритм выполнения маршевых тестов. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | запоминающие устройства | ru_RU |
| dc.subject | пассивные кодочувствительные неисправности | ru_RU |
| dc.title | Анализ тестов запоминающих устройств для обнаружения пассивных кодочувствительных неисправностей | ru_RU |
| dc.type | Статья | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2021
|
