Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48003
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКазючиц, В. О.-
dc.coverage.spatialМинск-
dc.date.accessioned2022-09-09T06:15:02Z-
dc.date.available2022-09-09T06:15:02Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationКазючиц, В. О. Методика прогнозирования надежности полупроводниковых приборов по информативным параметрам / В. О. Казючиц // Технические средства защиты информации : тезисы докладов ХX Белорусско-российской научно-технической конференции, Минск, 7 июня 2022 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Т. В. Борботько [и др.]. – Минск, 2022. – С. 49 – 50.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48003-
dc.description.abstractРассматриваемая методика использует подход к прогнозированию работоспособности полупроводниковых приборов.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБГУИРru_RU
dc.subjectматериалы конференцийru_RU
dc.subjectпрогнозирование надежностиru_RU
dc.subjectполупроводниковые приборыru_RU
dc.titleМетодика прогнозирования надежности полупроводниковых приборов по информативным параметрамru_RU
dc.typeArticleru_RU
Appears in Collections:ТСЗИ 2022

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kazyutsits_Metodika.pdf285.39 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.