Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48530
Title: Мера отличия для управляемых вероятностных тестов
Other Titles: Distance Measure for Controlled Random Tests
Authors: Ярмолик, В. Н.
Шевченко, Н. А.
Петровская, В. В.
Keywords: доклады БГУИР;Хэмминга расстояние;Левенштейна расстояние
Issue Date: 2022
Publisher: БГУИР
Citation: Ярмолик, В. Н. Мера отличия для управляемых вероятностных тестов=Distance Measure for Controlled Random Tests / Ярмолик В. Н., Шевченко Н. А., Петровская В. В. // Доклады БГУИР. – 2022. – Т. 20, № 6. – С. 52 – 60. – DOI: http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-6-52-60.
Abstract: Исследуется задача построения характеристик различия тестовых последовательностей. Обосновывается ее актуальность для генерирования управляемых вероятностных тестов и сложность нахождения мер отличия для символьных тестов. Показывается ограниченность применения расстояния Хэмминга и Дамерау – Левенштейна для получения меры отличия тестовых наборов. Для произвольного случая определяется новая мера различия двух символьных тестовых наборов на основе интервала, используемого в теории строя цепи последовательных событий. Расстояние D(T i , T k ) между тестовыми наборами T i и T k , использующее характеристику интервала, основано на определении независимых пар одинаковых (тождественных) символов, принадлежащих двум наборам, и вычислении интервалов между ними. Показывается комбинаторный характер вычисления предложенной меры отличия для символьных тестовых наборов произвольного алфавита и размерности. Приводится пример вычисления данной меры и показываются возможные ее модификации и ограничения. Рассматривается применение меры различия для случая многократного тестирования запоминающих устройств на основе адресных последовательностей pA с четным p повторением адресов. Для случая p = 2 приводятся математические соотношения вычисления интервалов и расстояния D(T i , T k ) для последовательностей адресов 2A, используемых для управляемого вероятностного тестирования запоминающих устройств. Приводятся экспериментальные результаты, подтверждающие эффективность предложенной меры отличия.
Alternative abstract: The problem of constructing characteristics of the difference between test sequences is investigated. Its relevance for generating controlled random tests and the complexity of finding difference measures for symbolic tests are substantiated. The limitations of using the Hamming and Damerau–Levenshtein distances to obtain a measure of the difference between test patterns are shown. For an arbitrary case, a new measure of the difference between two symbolic test sets is determined based on the interval used in the theory of the chain of successive events. The distance D(T i , T k ) between test patterns T i and T k , using the interval characteristic, is based on determining independent pairs of identical (equal) symbols belonging to two patterns and calculating the intervals between them. The combinatorial nature of the calculation, the proposed difference measure for symbolic test patterns of an arbitrary alphabet and dimension, is shown. An example of calculating this measure is given and its possible modifications and limitations are shown. The application of the measure of difference is considered for the case of multi-run testing of memory devices based on address sequences pA with even p repetition of addresses. For the case p = 2, mathematical relations are given for calculating intervals and distances D(T i , T k ) for address sequences 2A used for controlled random testing of memory devices. Experimental results are presented confirming the effectiveness of the proposed difference measure.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/48530
Appears in Collections:№ 20(6)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Yarmolik_Mera.pdf502.45 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.