Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49215
Title: Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур
Other Titles: Classification of devices for the organization of ECB testing in the Temperature range
Authors: Ефименко, С. А.
Смолич, В. А.
Keywords: публикации ученых;микросхемы;полупроводниковые приборы
Issue Date: 2022
Publisher: БНТУ
Citation: Ефименко, С. А. Классификация устройств для организации тестирования ЭКБ в диапазоне температур = Classification of devices for the organization of ECB testing in the Temperature range / Ефименко С. А., Смолич В. А. // Приборостроение – 2022 : материалы 15-й Международной научно-технической конференции, Минск, 16–18 ноября 2022 г. / Белорусский национальный технический университет. – Минск, 2022. – С. 2.
Abstract: Работоспособность электронной аппаратуры в широком диапазоне температур окружающей среды определяется в первую очередь работоспособностью используемой элементной компонентной базы (ЭКБ). В работе приведены обзор и классификация оборудования для тестирования в серийном производстве микросхем и полупроводниковых приборов в диапазоне температур. Показаны основные характеристики автоматизированных и неавтоматизированных устройств, предназначенных для задания температур при тестировании.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49215
Appears in Collections:Публикации в изданиях Республики Беларусь

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Efimenko_Klassifikaciya.pdf363.09 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.