| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Кайкы, М. Н. | - |
| dc.contributor.author | Иванюк, А. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | - |
| dc.date.accessioned | 2022-12-01T09:29:56Z | - |
| dc.date.available | 2022-12-01T09:29:56Z | - |
| dc.date.issued | 2022 | - |
| dc.identifier.citation | Кайкы, М. Н. Исследование стабильности промышленной SRAM памяти, используемой для неклонируемой идентификации / М. Н. Кайкы, А. А. Иванюк // Информационные технологии и системы 2022 (ИТС 2022) = Information Technologies and Systems 2022 (ITS 2022) : материалы Международной научной конференции, Минск, 23 ноября 2022 / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Л. Ю. Шилин [и др.]. – Минск : БГУИР, 2022. – С.79–80. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/49237 | - |
| dc.description.abstract | Данная работа посвящена изучению стабильности промышленных ячеек статистической памяти, используемых для неклонируемой идентификации. В работе рассматривается изменение характеристик стабильности ячеек в зависимости от напряжения питания промышленного образца статической памяти. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.subject | SRAM | ru_RU |
| dc.subject | физически неклонируемые функции | ru_RU |
| dc.subject | транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | статическая память | ru_RU |
| dc.subject | Xilinx | ru_RU |
| dc.title | Исследование стабильности промышленной SRAM памяти, используемой для неклонируемой идентификации | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | ИТС 2022
|
