Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50368
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСуходольский, А. М.-
dc.coverage.spatialМоскваru_RU
dc.date.accessioned2023-03-07T11:54:31Z-
dc.date.available2023-03-07T11:54:31Z-
dc.date.issued1981-
dc.identifier.citationУстройство для контроля подложки микросхемы, преимущественно при анодировании в ванне с электролитом : а. с. 871260 СССР : МПК H 01 L 21/70 / Суходольский А. М. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 2723226/18-21 ; заявл. 05.02.1979 ; опубл. 07.10.1981. – 3 с.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50368-
dc.description.abstractИзобретение относится к микроэлектронике, в частности, к технологии создания активных и пассивных тонкопленочных элементов, построенных на основе тонких диэлектрических пленок.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГосударственный комитет СССР по делам изобретений и открытийru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectмикроэлектроникаru_RU
dc.subjectтонкие пленкиru_RU
dc.subjectдиэлектрические пленкиru_RU
dc.titleУстройство для контроля подложки микросхемы, преимущественно при анодировании в ванне с электролитомru_RU
dc.title.alternativeА. с. 871260 СССРru_RU
dc.typeOtherru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Pat_871260.pdf155.38 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.