Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50528
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШатило, Н. И.-
dc.coverage.spatialМоскваru_RU
dc.date.accessioned2023-03-16T05:51:32Z-
dc.date.available2023-03-16T05:51:32Z-
dc.date.issued1980-
dc.identifier.citationУстройство для измерения динамических параметров электронных блоков: а. с. 750402 СССР : МПК G 01 R 31/28 / Шатило Н. И. ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – №2463549/18-21 ; заявл. 10.03.1977 ; опубл. 23.07.1980. – 4 с. : ил.ru_RU
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50528-
dc.description.abstractИзобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для измерения динамических параметров различных электронных блоков.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherГосударственный комитет СССР по делам изобретений и открытийru_RU
dc.subjectпатентыru_RU
dc.subjectэлектроизмерительная техникаru_RU
dc.subjectэлектронные блокиru_RU
dc.subjectгенератор испытательного сигналаru_RU
dc.titleУстройство для измерения динамических параметров электронных блоковru_RU
dc.title.alternativeА. с. 750402 СССРru_RU
dc.typeOtherru_RU
Appears in Collections:Изобретения

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
+Pat_750402.pdf263.87 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.