| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Суходольский, А. М. | - |
| dc.contributor.author | Дробыш, П. П. | - |
| dc.contributor.author | Власенко, В. Н. | - |
| dc.contributor.author | Притуляк, П. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Москва | ru_RU |
| dc.date.accessioned | 2023-04-07T08:40:33Z | - |
| dc.date.available | 2023-04-07T08:40:33Z | - |
| dc.date.issued | 1986 | - |
| dc.identifier.citation | Тестовая ячейка для контроля качества МДП-БИС : а. с. 1267303 СССР : МПК G 01 R 31/28 / А. М. Суходольский, П. П. Дробыш, В. Н. Власенко, П. В. Притуляк ; заявитель и патентообладатель Минский радиотехнический институт. – № 3862840/24-21 ; заявл. 21.01.1985 ; опубл. 30.10.1986 – 4 с. : ил. | ru_RU |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/50930 | - |
| dc.description.abstract | Изобретение относится к производству больших интегральных схем на МДП-транзисторах (МДП-БИС). Может быть использовано для их контроля и управления технологическими процессами изготовления. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий | ru_RU |
| dc.subject | патенты | ru_RU |
| dc.subject | интегральные схемы | ru_RU |
| dc.subject | мдп-транзисторы | ru_RU |
| dc.subject | устройства контроля | ru_RU |
| dc.title | Тестовая ячейка для контроля качества МДП-БИС | ru_RU |
| dc.title.alternative | А. с. 1267303 СССР | ru_RU |
| dc.type | Other | ru_RU |
| Appears in Collections: | Изобретения
|
