| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Турцевич, А. С. | - |
| dc.contributor.author | Волкенштейн, С. С. | - |
| dc.contributor.author | Керенцев, А. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Хмыль, А. А. | - |
| dc.date.accessioned | 2014-07-23T11:01:58Z | - |
| dc.date.accessioned | 2017-07-19T09:38:56Z | - |
| dc.date.available | 2014-07-23T11:01:58Z | - |
| dc.date.available | 2017-07-19T09:38:56Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах / А. С. Турцевич, С. С. Волкен6штейн, А. Ф. Керенцев, А. А. Хмыль // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ–БГУИР : материалы конференции, Минск, 18–19 марта 2014 г. : в 2 ч. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. Н. Осипов [и др.]. – Минск, 2014. – Ч. 2. – C. 65–66. | ru_RU |
| dc.identifier.isbn | 978-985-543-038-5 | - |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/516 | - |
| dc.description.abstract | Миниатюризация компонентов электронной техники и микроэлектроники приводит к необходимости ужесточения мониторинга технологического процесса герметизации сваркой. | ru_RU |
| dc.language.iso | ru | ru_RU |
| dc.publisher | БГУИР | ru_RU |
| dc.subject | транзистор | ru_RU |
| dc.subject | металлокерамический корпус | ru_RU |
| dc.subject | материалы конференций | ru_RU |
| dc.title | Повышение надежности транзисторов в металлокерамических микрокорпусах | ru_RU |
| dc.type | Article | ru_RU |
| Appears in Collections: | Секция «Микро- и наноэлектроника»
|
