Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53819
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТашлыкова-Бушкевич, И. И.-
dc.contributor.authorСтоляр, И. А.-
dc.coverage.spatialМоскваen_US
dc.date.accessioned2023-12-13T07:46:36Z-
dc.date.available2023-12-13T07:46:36Z-
dc.date.issued2023-
dc.identifier.citationТашлыкова-Бушкевич, И. И. Нанорельеф поверхности тонких пленок сплавов Al–Mn и Al–Ni при ионно-ассистированном осаждении на стекло = Nanorelief of the Surface of Thin Films of Al–Mn and Al–Ni Alloys upon Ion-Assisted Deposition on Glass / И. И. Ташлыкова-Бушкевич, И. А. Столяр // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2023. – №3. – С. 23–39.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53819-
dc.description.abstractИсследованы закономерности формирования структуры, а также смачиваемость тонких пленок алюминия и сплавов Al–2.1 ат. % Mn и Al–1.4 ат. % Ni, осажденных на стеклянные подложки при ассистировании собственными ионами. Применение сканирующей зондовой (СЗМ) и растровой электронной микроскопии позволило охарактеризовать топографические неоднородности нано- и микрометрового размера на поверхности пленок и изучить характер их смачиваемости, измеренной методом покоящейся капли. В рамках профильного и топографического подходов для аналитического анализа СЗМ-изображений использован набор дискретных параметров шероховатости, дополненных безразмерными параметрами-комплексами ( и ) и параметром-функцией плотности вероятности высот выступов/впадин нанорельефа поверхности. Предложенный исследовательский гибридный параметр характеризует форму неровностей профиля нанорельефа, нагляден и связывает амплитуду и шаг шероховатости. Показана информативность системы выбранных девяти параметров для оценки шероховатости и нерегулярности локальной структуры поверхности пленок в поперечном и продольном сечениях, позволяющей не только численно исследовать структурно-морфологические изменения при легировании алюминия, но и определить количественные соотношения, связывающие микрогеометрию поверхности пленок с условиями осаждения. Выявлено влияние исходного рельефа стекла-подложки на параметры неоднородностей поверхности пленок, которые имеют вид субмикронных конусов и локальных холмиков. Получено гауссово распределение нанорельефа пленок алюминия и его сплавов по площади поверхности, и поверхность покрытий можно рассматривать как реализацию случайного нормального процесса. Частотные распределения микрокапельной фракции по размерам носят логнормальный характер. Обнаружена корреляция параметров шероховатости пленок с размером и плотностью микрочастиц капельной фракции. Установлено, что осаждение Al-содержащих пленок понижает гидрофильность поверхности системы пленка/стекло–подложка. При легировании алюминия степень морфологической неоднородности поверхности пленок, а также их смачиваемость снижается. Обсуждается гомогенный режим смачивания пленок водой и его зависимость от материала, морфологии и однородности химического состава поверхности.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherИздательство «Наука»en_US
dc.subjectпубликации ученыхen_US
dc.subjectионно-ассистированное осаждениеen_US
dc.subjectсканирующая микроскопияen_US
dc.subjectзондовая микроскопияen_US
dc.subjectсплавы Al–Mnen_US
dc.titleНанорельеф поверхности тонких пленок сплавов Al–Mn и Al–Ni при ионно-ассистированном осаждении на стеклоen_US
dc.title.alternativeNanorelief of the Surface of Thin Films of Al–Mn and Al–Ni Alloys upon Ion-Assisted Deposition on Glassen_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationThe patterns of structure formation, as well as the wettability, were investigated for thin films of aluminum and Al–2.1 at % Mn and Al–1.4 at % Ni alloys on glass substrates prepared by ion beam-assisted deposition. The application of scanning probe microscopy (SPM) and scanning electron microscopy allowed characterizing nano- and micrometer-sized topographic heterogeneities on the film surfaces and studying the nature of their wettability measured by sessile drop method. Within the framework of the profile and topographic approaches for the analytical analysis of SPM images, a set of discrete roughness parameters was used, supplemented by dimensionless parameters-complexes ( ψ and k ) and a parameter-function of probability density of the heights and valleys of the surface nanorelief. The proposed research hybrid parameter k characterizes the shape of the irregularities of the nanorelief profile, has visibility and relates to the amplitude and roughness step. The informativity of the system of nine selected parameters for estimating the roughness and irregularity of the local structure of the film surface in the cross-section and longitudinal section was shown, which allowed not only studying numerically structural-morphological changes during aluminum doping, but also determining the quantitative relationships between the microgeometry of film surface and the depo- sition conditions. The effect of the initial relief of the glass substrate on the parameters of the surface irregularities of the films, which, as obtained, have the form of submicron cones and local hillocks, was revealed.The Gaussian distribution of the film nanorelief of aluminum and its alloys over the surface area was obtained, and the coating surfaces could be considered as a realization of a random normal process. The frequency distributions of the microdroplet fraction by size were lognormal. The film roughness parameters were found to correlate with the size and density of droplet fraction microparticles. It was revealed that the deposition of Al-containing films reduced the surface hydrophilicity of the film/glass substrate system. When doping aluminum, the degree of morphological heterogeneity of the film surface, as well as their wettability, decreased. The homogeneous regime of film wetting with water and its dependence on the material, morphology, and chemical composition homogeneity of the surface are discussed.en_US
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Tashlykova_Bushkevich_Nanorelef.pdf3.25 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.