| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Пономарёв, И. С. | - |
| dc.contributor.author | Свиржевский, И. В. | - |
| dc.contributor.author | Крень, М. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Рязань | en_US |
| dc.date.accessioned | 2024-01-04T07:20:25Z | - |
| dc.date.available | 2024-01-04T07:20:25Z | - |
| dc.date.issued | 2023 | - |
| dc.identifier.citation | Пономарёв, И. С. Оптимальное сочетание показателей надежности и режимов ИЭТ при проектировании электронных систем / И. С. Пономарёв, И. В. Свиржевский, М. А. Крень // Новые информационные технологии в научных исследованиях «НИТ-2023» : материалы XХVIII Всероссийской научно-технической конференции студентов, молодых ученых и специалистов, Рязань, 22–24 ноября, 2023 г. : в 2 т. Т 2 / Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина. – Рязань, 2023. – С. 116–119. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/53977 | - |
| dc.description.abstract | Проведен анализ проблем, возникающих в процессе создания сложных электронных систем. Рассмотрены нормативные документы используемые в процессе проектирования электронных систем. Выделены нерешенные на сегодняшний день проблемы проектирования сложных электронных систем. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | Рязанский государственный радиотехнический университет имени В. Ф. Уткина | en_US |
| dc.subject | публикации ученых | en_US |
| dc.subject | электронные системы | en_US |
| dc.subject | информационные технологии | en_US |
| dc.subject | электронная техника | en_US |
| dc.title | Оптимальное сочетание показателей надежности и режимов ИЭТ при проектировании электронных систем | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| Appears in Collections: | Публикации в зарубежных изданиях
|
