Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/56753
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКоченов, Е. Г.-
dc.contributor.authorШебеко, В. Н.-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2024-07-30T09:24:57Z-
dc.date.available2024-07-30T09:24:57Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationКоченов, Е. Г. Исследование процессов низкотемпературного осаждения тонких пленок диоксида ванадия для изготовления микроболометров / Е. Г. Коченов, В. Н. Шебеко // 60-я юбилейная научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов учреждения образования «Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники» : материалы конференции, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2024. – С. 62–66.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/56753-
dc.description.abstractРассмотрены основные электрофизические характеристики и низкотемпературные методы осаждения тонких пленок диоксида ванадия для создания активных электронных элементов с фазовым переходом металл-изолятор. Разработаны процессы электрохимического осаждения пленок оксида ванадия на подложках кремний-диоксид титана. Установлено ориентирующее влияние подложки на процесс кристаллизации и температуры отжига на размер зерен полученных пленок.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectматериалы конференцийen_US
dc.subjectэлектрохимическое осаждениеen_US
dc.subjectметалл-изоляторыen_US
dc.subjectмикроболометрыen_US
dc.titleИсследование процессов низкотемпературного осаждения тонких пленок диоксида ванадия для изготовления микроболометровen_US
dc.typeArticleen_US
Appears in Collections:60-я научная конференция аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР (2024)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kochenov_Issledovanie.pdf2.01 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.