| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Шведун, А. В. | - |
| dc.contributor.author | Маркусенко, Н. С. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2024-09-04T06:52:26Z | - |
| dc.date.available | 2024-09-04T06:52:26Z | - |
| dc.date.issued | 2024 | - |
| dc.identifier.citation | Шведун, А. В. Метод обобщенного градиентного приближения в форме PBE для определения ширины запрещенной зоны полупроводников = The generalized gradient approximation method in the form of PBE for determining the band gap of semiconductor / А. В. Шведун, Н. С. Маркусенко // Электронные системы и технологии : сборник материалов 60-й научной конференции аспирантов, магистрантов и студентов БГУИР, Минск, 22–26 апреля 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: Д. В. Лихаческий [и др.]. – Минск, 2024. – С. 697–698. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/57245 | - |
| dc.description.abstract | Обзор методики применения функционала PBE для определения толщины запрещенной зоны полупроводников. Рассмотрены важные аспекты, связанные с расчетами электронной структуры и теорией функционала плотности. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | полупроводники | en_US |
| dc.subject | запрещенная зона | en_US |
| dc.subject | среда открытого бета-тестирования | en_US |
| dc.title | Метод обобщенного градиентного приближения в форме PBE для определения ширины запрещенной зоны полупроводников | en_US |
| dc.title.alternative | The generalized gradient approximation method in the form of PBE for determining the band gap of semiconductor | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | Review of the methodology of PBE functional application for determining the thickness of the band gap of semiconductors. Important aspects related to electronic structure calculations and density functional theory are considered. | en_US |
| Appears in Collections: | Электронные системы и технологии : материалы 60-й конференции аспирантов, магистрантов и студентов (2024)
|
