Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/579
Title: Структура и оптические свойства тонких пленок теллура
Authors: Колосницын, Б. С.
Сицко, И. А.
Keywords: накопитель информации;дифрактограмма;ХСП;ЭСППЗУ;материалы конференций
Issue Date: 2014
Publisher: БГУИР
Citation: Колосницын, Б. С. Структура и оптические свойства тонких пленок теллура / Б. С. Колосницын, И. А. Сицко // Международная научно-техническая конференция, приуроченная к 50-летию МРТИ–БГУИР : материалы конференции, Минск, 18–19 марта 2014 г. : в 2 ч. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: А. Н. Осипов [и др.]. – Минск, 2014. – Ч. 2. – C. 34–35.
Abstract: К новым материалам, которые используются в накопителях информации, относятся пленки халькогенидных стеклообразных полупроводников (ХСП), в состав которых входит теллур.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/579
ISBN: 978-985-543-038-5
Appears in Collections:Секция «Микро- и наноэлектроника»

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
230218.pdf410.89 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.