Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58836
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorТуровец, У. Е.-
dc.coverage.spatialМинскen_US
dc.date.accessioned2025-01-20T07:49:34Z-
dc.date.available2025-01-20T07:49:34Z-
dc.date.issued2024-
dc.identifier.citationТуровец, У. Е. Оптическое моделирование тонкопленочного ИК-светодиода на основе коллоидных квантовых точек = Optical modeling of thin film IR quantum dot light emitting diode / У. Е. Туровец // Компьютерное проектирование в электронике = Electronic Design Automation : cборник трудов Международной научно-практической конференции, Минск, 28 ноября 2024 г. / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники ; редкол.: В. Р. Стемпицкий [и др.]. – Минск, 2024. – С. 63–66.en_US
dc.identifier.urihttps://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58836-
dc.description.abstractВ данной работе проведено моделирование оптических процессов в структуре тонкопленочного ИК-светодиода методом конечной разности во временной области. Исследованы такие параметры, как пропускание, эффективность распространения электромагнитных волн в диапазоне 1,25–1,35 мкм. Показано, что коэффициент пропускания уменьшается при прохождении функциональных слоев до 35%. В заключение предложены стратегии оптимизации функциональных слоев.en_US
dc.language.isoruen_US
dc.publisherБГУИРen_US
dc.subjectматериалы конференцийen_US
dc.subjectFDTD-моделированиеen_US
dc.subjectсветодиодыen_US
dc.subjectэффективность извлечения светаen_US
dc.subjectQLEDen_US
dc.titleОптическое моделирование тонкопленочного ИК-светодиода на основе коллоидных квантовых точекen_US
dc.title.alternativeOptical modeling of thin film IR quantum dot light emitting diodeen_US
dc.typeArticleen_US
local.description.annotationIn this work, optical processes in the structure of a thin-film IR QLED were modeled using the FDTD method. Parameters such as transmission and propagation efficiency of electromagnetic waves in the range of 1.25–1.35 microns have been studied. It is shown that the transmission coefficient decreases with the passage of functional layers up to 35%. In conclusion, strategies for optimizing functional layers are proposed.en_US
Appears in Collections:Компьютерное проектирование в электронике (2024)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Turovec_Opticheskoe.pdf268.99 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.