Skip navigation
Please use this identifier to cite or link to this item: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58930
Title: Инструментарий для расчета характеристик гетероструктур, содержащих GaN, SiC и графен
Authors: Абрамов, И. И.
Коломейцева, Н. В.
Батура, М. П.
Ермак, В. О.
Keywords: публикации ученых;наноэлектроника;моделирование;гетероструктуры;GaN;SiC
Issue Date: 2024
Publisher: СевГУ
Citation: Инструментарий для расчета характеристик гетероструктур, содержащих GaN, SiC и графен / И. И. Абрамов, Н. В. Коломейцева, М. П. Батура, В. О. Ермак // СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии (КрыМиКо’2024) = Microwave and Telecommunication Technology (CriMiCo'2024) : сборник научных трудов 34-й Международной научно-технической конференции, Севастополь, 8–14 сентября 2024 г. / Севастопольский государственный университет. – Севастополь, 2024. – Вып. 6. – С. 112–113.
Abstract: В работе рассмотрен инструментарий, предназначенный для моделирования характеристик гетероструктур, содержащих GaN, SiC и графен с вертикальным транспортом. С его помощью промоделированы структуры на основе материальной системы GaN/SiC с учетом различия в задании гетерограниц Ga/Si и Ga/C.
URI: https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/58930
Appears in Collections:Публикации в зарубежных изданиях

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Abramov_Instrumentarij_dlya.pdf673.06 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.