Исследование эффективности моделей прогнозирования класса надёжности изделий электронной техники

Abstract

Рассматривается применение статистического имитационного моделирования для исследования эффективности моделей, используемых в начальный момент времени (t = 0) для индивидуального прогнозирования надёжности изделий электронной техники для заданной (будущей) наработки по значениям информативных параметров изделий при t = 0. Особенностью исследуемых моделей прогнозирования является наличие операции преобразования информативных параметров конкретного экземпляра в дискретный двоичный или троичный код с последующим принятием решения о классе надёжности экземпляра (класс надёжных или класс потенциально ненадёжных экземпляров) по набору двоичных или троичных кодовых сигналов, полученных для этого экземпляра. Статистическое имитационное моделирование использовано для генерирования на компьютере результатов обучающего эксперимента, представляющего собой таблицу с указанием номера экземпляра, значений его информативных параметров и класса экземпляра по результатам виртуальных испытаний, соответствующих с точки зрения надёжности изделий заданной наработке. Генерировалось три информативных параметра, объём обучающей выборки составлял 5000 экземпляров. Условия моделирования (генерирования на компьютере) значений информативных параметров выбраны с учётом законов их распределения, полученным отдельно для экземпляров обоих классов, используя обработку результатов реального обучающего эксперимента, выполненного для биполярных транзисторов большой мощности типа КТ872А. Эффективность интересующих моделей прогнозирования определена путём получения моделей с использованием смоделированного обучающего эксперимента и дальнейшего их применения для прогнозирования класса надёжности экземпляров четырёх, специально сгенерированных контрольных выборок, классы надёжности экземпляров которых для заданной наработки были известны.