| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Алексеев, В. Ф. | - |
| dc.contributor.author | Лихачевский, Д. В. | - |
| dc.coverage.spatial | Брест | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-02-21T10:41:24Z | - |
| dc.date.available | 2025-02-21T10:41:24Z | - |
| dc.date.issued | 2024 | - |
| dc.identifier.citation | Алексеев, В. Ф. Алгоритмы иерархического анализа тепловых процессов радиоэлектронных средств / В. Ф. Алексеев, Д. В. Лихачевский // Цифровая среда: технологии и перспективы : сборник материалов II Международной научно-практической конференции, Брест, 31 октября–1 ноября 2024 г. / Брестский государственный технический университет ; редкол.: Н. Н. Шалобыта (гл. ред.) [и др.]. – Брест, 2024. – С. 221–226. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59186 | - |
| dc.description.abstract | В статье рассмотрены ключевые аспекты тепловых процессов, происходящих в радиоэлектронных устройствах, и предложены алгоритмы, позволяющие эффективно анализировать и прогнозировать температурные режимы в таких конструкциях. Авторы подчеркивают важность термического анализа для обеспечения надежности и долговечности элементов радиоэлектронной аппаратуры, а также необходимость учета различных факторов, влияющих на тепловые характеристики. В результате проведенных исследований предложены алгоритмы, позволяющие оптимизировать тепловые процессы, повышая эффективность радиоэлектронных устройств. Статья будет полезна специалистам в области теплотехники, радиоэлектроники и разработки наукоемких систем, а также студентам и исследователям, интересующимся данной темой. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БрГТУ | en_US |
| dc.subject | публикации ученых | en_US |
| dc.subject | радиоэлектронные устройства | en_US |
| dc.subject | температурные режимы | en_US |
| dc.subject | тепловые процессы | en_US |
| dc.title | Алгоритмы иерархического анализа тепловых процессов радиоэлектронных средств | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The article discusses key aspects of thermal processes occurring in radioelectronic devices and proposes algorithms that allow for effective analysis and prediction of temperature regimes in such constructions. The authors emphasize the importance of thermal analysis for ensuring the reliability and durability ofradioelectronic equipment components, as well as the need to account for variousfactors affecting thermal characteristics. As a result ofthe conducted research, algorithms have been proposed that enable the optimization ofthermal processes, enhancing the efficiency ofradioelectronic devices. The article will be usefulfor specialists in the fields ofthermal engineering, radioelectronics, and the development of high-tech systems, as well as for students and researchers interested in this topic. | en_US |
| Appears in Collections: | Публикации в изданиях Республики Беларусь
|
