| DC Field | Value | Language |
|---|
| dc.contributor.author | Батыргалиев, А. Б. | - |
| dc.contributor.author | Молганов, А. А. | - |
| dc.coverage.spatial | Минск | en_US |
| dc.date.accessioned | 2025-04-14T08:22:40Z | - |
| dc.date.available | 2025-04-14T08:22:40Z | - |
| dc.date.issued | 2025 | - |
| dc.identifier.citation | Батыргалиев, А. Б. Применение многопортового S-параметрического анализа в реверс-инжиниринге интегральных схем для детектирования скрытых функциональных возможностей и аномалий в передаче сигналов = Application of multiport S-parametric analysis in reverse engineering of integrated circuits to detect hidden functional capabilities and anomalies in signal transmission / А. Б. Батыргалиев, А. А. Молганов // Технические средства защиты информации : материалы ХXIII Международной научно-технической конференции, Минск, 08 апреля 2025 года / Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники [и др.] ; редкол. : О. В. Бойправ [и др.]. – Минск, 2025. – С. 70–75. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://libeldoc.bsuir.by/handle/123456789/59501 | - |
| dc.description.abstract | Процесс проектирования интегральных микросхем в нынешнее время сопряжен с определенными технологическими нормами суть которых заключается в уменьшении подаваемой тока, уменьшении расстояния между структурными элементами и увеличения вычислительных мощностей на единицу площади. В связи с этим проведение инженерно-технического анализа на предмет наличия недекларированных возможностей представляется огромной проблемой как с технической точки зрения, так и с юридической – ввиду отсутствия конструкторской документации на интегральную микросхему. Интегральные микросхемы предназначенные для передачи информации с помощью радиочастотных структур имеют особое топологическое строение и поэтому реверс-инжиниринг данных микросхем затруднен из-за наличия фильтров и других помех блокирующих частей. Применение многопортового S-параметрического анализа позволяет провести топологический анализ скрытых цепей и портов, определить скрытые режимы работы и паразитных излучений. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | БГУИР | en_US |
| dc.subject | материалы конференций | en_US |
| dc.subject | защита информации | en_US |
| dc.subject | интегральные микросхемы | en_US |
| dc.subject | S-параметры | en_US |
| dc.subject | техническая защита информации | en_US |
| dc.subject | реверс-инжиниринг | en_US |
| dc.subject | печатные платы | en_US |
| dc.subject | инвазивные методы анализа | en_US |
| dc.subject | неинвазивные методы анализа | en_US |
| dc.title | Применение многопортового S-параметрического анализа в реверс-инжиниринге интегральных схем для детектирования скрытых функциональных возможностей и аномалий в передаче сигналов | en_US |
| dc.title.alternative | Application of multiport S-parametric analysis in reverse engineering of integrated circuits to detect hidden functional capabilities and anomalies in signal transmission | en_US |
| dc.type | Article | en_US |
| local.description.annotation | The process of designing integrated circuits at the present time is associated with certain technological standards, the essence of which is to reduce the supplied current, reduce the distance between structural elements and increase computing power per unit area. In this regard, conducting an engineering and technical analysis for undeclared capabilities is a huge problem both from a technical point of view and from a legal one, due to the lack of design documentation for an integrated circuit. Integrated circuits designed to transmit information using radio frequency structures have a special topological structure, and therefore reverse engineering of these chips is difficult due to the presence of filters and other interference from blocking parts. The use of multiport S-parametric analysis allows for topological analysis of hidden circuits and ports, to determine hidden modes of operation and spurious emissions. | en_US |
| Appears in Collections: | ТСЗИ 2025
|
